设备名称：透射电子显微镜

                                                                     设备型号：JEM-2010

                                                                     制造商：日本电子株式会社

                                                                     地点：重点实验室北楼 118室

                                                                     管理人：马吉强

一、技术参数

      加速电压：200kv    

      线分辨率：0.14nm    

      点分辨率：0.2nm

二、主要功能

      材料显微结构分析，明场像  暗场像  选区电子衍射  高分辨晶格像  EDS。

三、常用附件

      EDS  能谱  （Link ISIS）